深圳市禾苗分析儀器有限公司

   禾苗分析專注于環(huán)保測試的研發(fā)、設計、生產(chǎn)，提供各類XRF、鍍層測厚儀、膜厚分析儀x2034d9n，品類齊全、技術領先、性價比高，目前公司已在國內核心城市設立常駐銷售與服務網(wǎng)點。詳情請咨詢張先生18319999072。

   禾苗分析商務服務于廣大人民，公司主營品質有保證的XRF的研發(fā)、設計、生產(chǎn)、銷售及售后服務于一體。禾苗分析悄然中脫穎而出，以其獨特的儀器儀表品牌優(yōu)勢成為同行業(yè)中佼佼者，深受廣大用戶的喜愛和認可。 延伸拓展 產(chǎn)品詳情：膜厚測試儀校準方法 膜厚測試儀校準方法 1儀器校零 1．1將測量探頭壓在鐵基上（或不帶涂層的測量體上），滄州歐譜再輕按一下校零鍵ZERO進行校零。在按ZERO鍵時，測量探頭在鐵基上不要晃動。同時要注意，只有在按完ZERO鍵后，才能提起探頭，否則，校零不正確。 1．2將測量探頭提起（或不帶涂層的測量體上），觀察鐵基上的測量值，若測量值在0附近，說明校零成功，否則，應得新校零。 2儀器校滿度 2．1根據(jù)要測量的涂層厚度，選擇 適當?shù)臉藴誓てM行滿度校準。 2．2先將標準膜片放在鐵基上（或不帶涂層的測量體上）。 C2．3再將測量探頭壓在標準膜片上，測量值就顯示在顯示器上，若測量值與標準膜片不同，測量值可通過加1鍵或減1鍵來修正。修正時，測量探頭一定提起，否則，按加1鍵或減1鍵無效。 2．4為保證校滿度的準確性，可通過多次測同一標準膜片來驗證。

   禾苗分析的客戶服務和質量控制走在行業(yè)的前列，獲得了世界各地客戶的高度稱贊。我們的目標是與客戶并肩合作發(fā)展，如果您有任何關于產(chǎn)品設計的新理念，我們的設計師將幫助您實現(xiàn)想法；如果您對我們的產(chǎn)品感興趣，請隨時聯(lián)系，我們期待著與您合作。公司官網(wǎng)：heleex